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32工位高通量XRF檢測儀(XRF-S32)
產品簡介：
32 工位高通量 XRF 檢測儀(XRF-S32)是一款高通量 XRF 檢測儀， 可一次檢測 32 個樣品，縮短 整個測試實驗周期。 該系統(tǒng)主要由手持式 XRF 檢測儀、二軸運動平臺、 32 工位樣品臺以及遠程筆記本控 制系統(tǒng)四部分組成, 具有高的靈敏度，可以在極低濃度下（ppm 級） 快速簡單的測量出樣品中所含的各元 素（Ne 到 Pu）?？蓮V泛應用于高通量方法進行合金材料成分分析篩選、高熵合金、新型磁性材料以及固 態(tài)陶瓷電解質材料等的分析研究中
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產品型號 |
32 工位高通量 XRF 檢測儀 |
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主要特點
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1 、該系統(tǒng)由手持式 XRF 檢測儀、 二軸運動平臺以及 32 工位樣品臺以及遠程筆記本控制 系統(tǒng)四部分組成
2 、XRF 檢測儀可通過 USB 數(shù)據(jù)線與電腦連接，確保實驗人員可以在安全的距離上操作
3 、一次最多可放置 32 個樣品，實現(xiàn)高通量的材料成分檢測
4 、設置有 X 射線指示燈，觀察窗口采用鉛玻璃材質， 確保 X 射線的安全使用
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XRF 檢測儀
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1 、手持式 XRF 檢測儀，結構小巧，操作簡便
2、具有安全聯(lián)鎖結構， 避免 X 射線的意外泄露
3 、USB 數(shù)據(jù)線與電腦連接在安全距離處進行檢測，保證操作人員的安全（圖 2） |
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軟件控制
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筆記本電腦中包含預先安裝好的 X 射線源控制軟件， 探測器控制軟件以及光譜分析軟件 用于儀器各部分的控制和數(shù)據(jù)分析 強大的 XRF 控制系統(tǒng)以及光譜分析軟件可以進行測量的定制和優(yōu)化， 特別適用于研究復 雜樣品和未知樣品 光譜分析軟件可用于樣品的定性和定量分析
樣品一般為塊體或薄膜
可對空氣中的衰減和吸收進行完整的校正 可對 55 種元素進行實時分析 可選擇自動模式進行連續(xù)或重復性的分析 |
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二軸運動平臺
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觸摸屏顯示控制，操作方便 檢測時間（轉換工位停留時間） 、X-Y 軸移動速度、結束工位等參數(shù)可調， 實現(xiàn)自動換
樣
搭配 32 工位樣品臺可進行高通量材料成分檢測
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32 工位樣品臺
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樣品可放置于 32 工位樣品臺上
樣品臺與二軸運動平臺搭配使用，實現(xiàn)高通量材料成分檢測（如下圖） |
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技術參數(shù) |
電源： 220V AC ，50/60Hz，單相 |
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產品規(guī)格 |
尺寸： 1000×800×1000mm；重量： 120kg |
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注意事項 |
前門觀察窗口采用鉛玻璃材質， 可衰減 X 射線強度，檢測時需關閉前門，起到防護作用 建議 XRF 檢測時遠離箱體 36cm 進行操作 |
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質量認證 |
CE 認證 |
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符合 WEEE 指令、 EMC 指令、 RoHs （中國） 、FCC （美國） 以及 ICES-001 （加拿大） 等各項認證 |
